步入式溫濕度房廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機(jī)、通訊等領(lǐng)域產(chǎn)品（如：計算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）的溫濕度環(huán)境測試。

步入式溫濕度房執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備       

GB/T 5170.5-2008 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb

GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)低溫試驗(yàn)方法：試驗(yàn)A

GJB150.3-1986   高溫試驗(yàn)

GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定濕熱試驗(yàn)方法Cab

GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變濕熱試驗(yàn)方法Db

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法    

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法

GJB150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)

GJB4.5-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)

GJB4.6-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)

GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法411 濕熱試驗(yàn)

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)

GB10592-2006 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件   

GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件     

GJB150.9-1986   濕熱試驗(yàn)

（每立方米負(fù)載不大于35kg/m3熱容量，濕熱試驗(yàn)時無有源濕、熱負(fù)載）